Microparticle measurement method, microparticle measurement device, and microparticle measurement system
WO2023095414
Art A1
1. Juni 2023
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023095414
- Aktenzeichen
- EP22898199
- Anmeldetag
- 7. September 2022
- Veröffentlichung
- 1. Juni 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N15/00G01N15/02G01N15/06G01N21/59
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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