Method and apparatus for predicting lifetime of integrated circuit, and computer-readable storage medium

WO2023097580 Art A1 8. Juni 2023

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023097580
Aktenzeichen: EP21966014
Anmeldetag: 1. Dezember 2021
Veröffentlichung: 8. Juni 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G06F30/20G06F30/30G06F119/02G06F119/08

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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