Electronic circuit, automated test equipment, method and computer program for mitigating an influence of a mismatch loss in a measurement setup

WO2023104314 Art A1 15. Juni 2023

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023104314
Aktenzeichen: EP21836435
Anmeldetag: 9. Dezember 2021
Veröffentlichung: 15. Juni 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/42G01R35/00G01R27/28H04B17/15H01P1/18G01R27/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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