A framework for condition tuning and image processing for metrology applications
WO2023110291
Art A1
22. Juni 2023
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023110291
- Aktenzeichen
- EP22818421
- Anmeldetag
- 18. November 2022
- Veröffentlichung
- 22. Juni 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F1/86G06N3/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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