Charged particle device, charged particle assessment apparatus, measuring method, and monitoring method

WO2023117266 Art A1 29. Juni 2023

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023117266
Aktenzeichen: EP22818837
Anmeldetag: 22. November 2022
Veröffentlichung: 29. Juni 2023
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/04H01J37/12H01J37/244H01J37/26H01J37/28H01J37/317

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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