Method and apparatus for determining an information about characteristics of one or more devices under test, duts, using a statistically significant dissimilarity value

WO2023126079 Art A1 6. Juli 2023

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023126079
Aktenzeichen: EP22735194
Anmeldetag: 27. Juni 2022
Veröffentlichung: 6. Juli 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G06F11/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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