Determination device, inspection system, determination method, program, and storage medium
WO2023132176
Art A1
13. Juli 2023
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023132176
- Aktenzeichen
- EP22918762
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2022
- Veröffentlichung
- 13. Juli 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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