Surface inspecting device

WO2023135681 Art A1 20. Juli 2023

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023135681
Aktenzeichen: EP22920207
Anmeldetag: 12. Januar 2022
Veröffentlichung: 20. Juli 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01B9/02G01B11/30G02B21/10G02B21/14G02B21/18G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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