Collecting device, scanning ion conductance microscope provided with same, and collecting method
WO2023140324
Art A1
27. Juli 2023
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023140324
- Aktenzeichen
- EP23743317
- Anmeldetag
- 19. Januar 2023
- Veröffentlichung
- 27. Juli 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C12M1/42C12M1/26G01Q60/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOHOKU UNIVERSITY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Vertreten von
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