Equipment diagnostic device, semiconductor manufacturing equipment system, and semiconductor device manufacturing system
WO2023144874
Art A1
3. August 2023
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023144874
- Aktenzeichen
- EP22923743
- Anmeldetag
- 25. Januar 2022
- Veröffentlichung
- 3. August 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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