Defect estimating device, defect estimating method, and program

WO2023153110 Art A1 17. August 2023

Anmelder: KEIO UNIVERSITY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023153110
Aktenzeichen: EP22926124
Anmeldetag: 27. Dezember 2022
Veröffentlichung: 17. August 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N25/18G01N25/72

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KEIO UNIVERSITY
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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