High-precision measurement optical path structure for measuring roughness of inner and outer cavity surfaces, and automatic measurement system

WO2023160429 Art A1 31. August 2023

Anmelder: TIANJIN UNIVERSITY, STANDARD OPTICS TECHNOLOGY TIANJIN CO., LTD. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023160429
Aktenzeichen: EP23759054
Anmeldetag: 14. Februar 2023
Veröffentlichung: 31. August 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: TIANJIN UNIVERSITY
STANDARD OPTICS TECHNOLOGY TIANJIN CO., LTD.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tianjin University

Die Tianjin University ist eine der ältesten technischen Hochschulen Chinas mit Sitz in Tianjin. Ihr Patentportfolio deckt breit die Elektronik- und Schaltungstechnik ab, ergänzt durch organische Chemie sowie Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik. Anmeldungen sind seit 2002 belegt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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