Methods and systems for improving wafer defect classification nuisance rate

WO2023160986 Art A1 31. August 2023

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023160986
Aktenzeichen
EP23703721
Anmeldetag
3. Februar 2023
Veröffentlichung
31. August 2023
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/95H01L21/66G06T7/00G01N23/2251
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
ASML NETHERLANDS B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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