Wafer inspection device

WO2023162523 Art A1 31. August 2023

Anmelder: TORAY ENGINEERING CO., LTD., TASMIT, INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023162523
Aktenzeichen
EP23759529
Anmeldetag
18. Januar 2023
Veröffentlichung
31. August 2023
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/956G06T7/00H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
TORAY ENGINEERING CO., LTD.
TASMIT, INC.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Toray Engineering

Toray Engineering ist eine japanische Tochtergesellschaft des Toray-Konzerns und stellt Fertigungsanlagen für Halbleiter- und Displayproduktion her. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Verfahrens- und Trenntechnik, ergänzt um Elektronik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2025.

525 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen