Sample analysis device and sample analysis method
WO2023167078
Art A1
7. September 2023
Anmelder: FUJIREBIO INC., JEOL LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023167078
- Aktenzeichen
- EP23763337
- Anmeldetag
- 22. Februar 2023
- Veröffentlichung
- 7. September 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N35/02G01N35/10G01N1/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FUJIREBIO INC.
JEOL LTD. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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