Damage investigation system, information processing device, terminal, damage investigation method, and program
WO2023171322
Art A1
14. September 2023
Anmelder: FUJIFILM CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023171322
- Aktenzeichen
- EP23766501
- Anmeldetag
- 17. Februar 2023
- Veröffentlichung
- 14. September 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q50/26G06Q50/08G09B29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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