Implantability detection method and implantation failure prediction method

WO2023176923 Art A1 21. September 2023

Anmelder: THE UNIVERSITY OF TOKYO 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023176923
Aktenzeichen: EP23770876
Anmeldetag: 16. März 2023
Veröffentlichung: 21. September 2023
Rechtsraum: WO
IPC: C12Q1/68C12N15/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: THE UNIVERSITY OF TOKYO
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 University of Tokyo

Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.

3.350 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Pharma & Biotechnologie

Vertreten von