Device diagnosis system, device diagnosis device, semiconductor device production system, and device diagnosis method

WO2023181265 Art A1 28. September 2023

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023181265
Aktenzeichen: EP22933406
Anmeldetag: 24. März 2022
Veröffentlichung: 28. September 2023
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/3065H01L21/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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