Apparatus and method for measuring an embedded object
WO2023182939
Art A2
28. September 2023
Anmelder: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY 🇸🇬
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023182939
- Aktenzeichen
- EP23775404
- Anmeldetag
- 23. März 2023
- Veröffentlichung
- 28. September 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01Q21/29H01Q3/30H01Q21/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY
- Land
- 🇸🇬 Singapur
🇸🇬
Nanyang Technological University
Die Nanyang Technological University ist eine staatliche Forschungsuniversität in Singapur, die in den Bereichen Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologie international hoch angesehen ist.
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