Interconnect line defect detection system and method based on phase lock synchronous image processing

WO2023184153 Art A1 5. Oktober 2023

Anmelder: Sun Yat-Sen University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023184153
Aktenzeichen: EP22934010
Anmeldetag: 29. März 2022
Veröffentlichung: 5. Oktober 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sun Yat-Sen University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Sun Yat-Sen University

Die Sun Yat-Sen University ist eine bedeutende chinesische Forschungsuniversität mit Hauptsitz in Guangzhou. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie Software und Datenverarbeitung, ergänzt um organische Chemie und Pharma. Anmeldungen sind seit 2003 dokumentiert.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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