Semiconductor inspecting device, semiconductor inspecting system, and semiconductor inspecting method

WO2023203856 Art A1 26. Oktober 2023

Anmelder: RIGAKU CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023203856
Aktenzeichen: EP23791511
Anmeldetag: 21. Februar 2023
Veröffentlichung: 26. Oktober 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/18G21K1/00G21K1/06G21K7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: RIGAKU CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von