Integrated circuit analog-to-digital conversion chip parameter testing method and testing system

WO2023226117 Art A1 30. November 2023

Anmelder: JIANGSU UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY, JIANGYIN EASYCHIP ELEC TECH CO., LTD 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2023226117
Aktenzeichen: EP22943311
Anmeldetag: 20. Juni 2022
Veröffentlichung: 30. November 2023
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R23/16

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: JIANGSU UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
JIANGYIN EASYCHIP ELEC TECH CO., LTD
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Jiangsu University of Science and Technology

Die Jiangsu University of Science and Technology ist eine chinesische Hochschule mit Schwerpunkt Schiffbau und Maschinenbau. Ihr Patentportfolio deckt Fahrzeugtechnik, Fertigungsverfahren, Software sowie Mess- und Elektrotechnik ab.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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