Measurement apparatus, measurement circuit, and measurement method

WO2023233889 Art A1 7. Dezember 2023

Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023233889
Aktenzeichen
EP23815650
Anmeldetag
27. April 2023
Veröffentlichung
7. Dezember 2023
Rechtsraum
WO
IPC
G01R27/26G01R27/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen