Surface defect detection method based on image recognition
WO2023236372
Art A1
14. Dezember 2023
Anmelder: SOOCHOW UNIVERSITY 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023236372
- Aktenzeichen
- EP22945506
- Anmeldetag
- 31. August 2022
- Veröffentlichung
- 14. Dezember 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SOOCHOW UNIVERSITY
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Soochow University
Soochow University ist eine staatliche Universität in Suzhou, China, mit breitem Fächerspektrum einschließlich Materialwissenschaft und Chemie.
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