Apparatus for testing a device under test separating errors within a received pattern associated with different functional blocks of a device under test or associated with different blocks of one or more bits, method and computer program
WO2023237565
Art A1
14. Dezember 2023
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023237565
- Aktenzeichen
- EP23731594
- Anmeldetag
- 6. Juni 2023
- Veröffentlichung
- 14. Dezember 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/317G01R31/3193G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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