Test method and test apparatus for memory
WO2023245824
Art A1
28. Dezember 2023
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023245824
- Aktenzeichen
- EP22947565
- Anmeldetag
- 3. August 2022
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/768H01L23/48H10B12/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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Vertreten von
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