Air gap preparation method, dynamic random-access memory, and electronic device

WO2023272769 Art A1 5. Januar 2023

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023272769
Aktenzeichen
EP21947713
Anmeldetag
7. Juli 2021
Veröffentlichung
5. Januar 2023
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/764H10B12/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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