Semiconductor structure, method for forming same, and memory

WO2023272787 Art A1 5. Januar 2023

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2023272787
Aktenzeichen
EP21947730
Anmeldetag
15. Juli 2021
Veröffentlichung
5. Januar 2023
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/423H01L29/78H01L29/94H01L21/336H10B12/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

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