Scattering coefficient measurement error correction method
WO2023277447
Art A1
5. Januar 2023
Anmelder: KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2023277447
- Aktenzeichen
- EP22833503
- Anmeldetag
- 23. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 5. Januar 2023
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R35/02G01R23/16G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
Korea Research Institute of Standards and Science
Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.
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