Method for evaluating semiconductor device, method for producing semiconductor device, and semiconductor device
WO2024004157
Art A1
4. Januar 2024
Anmelder: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024004157
- Aktenzeichen
- EP22949430
- Anmeldetag
- 30. Juni 2022
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L23/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Mitsubishi Electric
Japanisches Unternehmen, das Elektro- und Elektroniktechnik entwickelt und herstellt, darunter Automatisierung, Energie-, Klima- und Fahrzeugtechnik.
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