Method to optimize post deposition baking condition of photo resistive materials
WO2024015173
Art A1
18. Januar 2024
Anmelder: Applied Materials Inc; 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024015173
- Aktenzeichen
- EP23840111
- Anmeldetag
- 9. Juni 2023
- Veröffentlichung
- 18. Januar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66H01L21/027G03F7/004G03F7/16H01L21/67G01B11/06G01N21/21G01N21/25
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials Inc;
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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