High temporal-spatial resolution energy spectrum ct imaging method and apparatus based on multi-layer flat panel detector
WO2024016421
Art A1
25. Januar 2024
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024016421
- Aktenzeichen
- EP22951688
- Anmeldetag
- 24. August 2022
- Veröffentlichung
- 25. Januar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B6/03
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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Fachgebiete
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