Element tolerance analysis method and device for optical system, and element quality evaluation method and device for optical system

WO2024017275 Art A1 25. Januar 2024

Anmelder: TSINGHUA UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024017275
Aktenzeichen: EP23842338
Anmeldetag: 19. Juli 2023
Veröffentlichung: 25. Januar 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G02B27/00G01M11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TSINGHUA UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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