Electron-optical apparatus and method of obtaining topographical information about a sample surface
WO2024017765
Art A1
25. Januar 2024
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024017765
- Aktenzeichen
- EP23739609
- Anmeldetag
- 13. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 25. Januar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J37/317H01J37/28H01J37/26H01J37/21G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Vertreten von
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