Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test using a carrier structure with an opening
WO2024022626
Art A1
1. Februar 2024
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024022626
- Aktenzeichen
- EP23719373
- Anmeldetag
- 13. April 2023
- Veröffentlichung
- 1. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/04G01R29/08G01R31/28G01R31/302H01Q21/00H01Q25/00H04B17/10G01R29/10H01Q1/52H01Q17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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