Verfahren, Vorrichtung und Computerimplementiertes Verfahren zur Inspektion eines Bauteils, insbesondere eines Bauteils eines Lithografiesystems, sowie Lithografiesystem
WO2024022835
Art A1
1. Februar 2024
Anmelder: CARL ZEISS SMT GMBH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024022835
- Aktenzeichen
- EP23744082
- Anmeldetag
- 13. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 1. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/94G01N21/95G01N21/88G03F7/00G01M11/00G01M11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CARL ZEISS SMT GMBH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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