Method and apparatus for in-situ sample quality inspection in cryogenic focused ion beam milling
WO2024025413
Art A1
1. Februar 2024
Anmelder: TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024025413
- Aktenzeichen
- EP23745289
- Anmeldetag
- 21. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 1. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/225H01J37/26G01N23/2251
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
780 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.