Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using an iterative approach to obtain temperature control instructions
WO2024032917
Art A1
15. Februar 2024
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024032917
- Aktenzeichen
- EP22783527
- Anmeldetag
- 12. Oktober 2022
- Veröffentlichung
- 15. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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