Standard sample for use in transmission electron microscope and method for manufacturing same, method for adjusting transmission electron microscope, and method for analyzing observation image obtained by transmission electron microscope
WO2024034155
Art A1
15. Februar 2024
Anmelder: HITACHI, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024034155
- Aktenzeichen
- EP23852142
- Anmeldetag
- 20. Januar 2023
- Veröffentlichung
- 15. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N1/00H01J37/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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