Degradation-based reliability analysis system and method utilizing a microstrucutre image
WO2024035870
Art A1
15. Februar 2024
Anmelder: WAYNE STATE UNIVERSITY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024035870
- Aktenzeichen
- EP23765342
- Anmeldetag
- 10. August 2023
- Veröffentlichung
- 15. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- WAYNE STATE UNIVERSITY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Wayne State University
Die Wayne State University ist eine staatliche Universität in Detroit, Michigan, mit breiter medizinischer und naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und organische Chemie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Pharma und Biotechnologie. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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