Soft X-Ray Multilayer Film Diffraction Grating
WO2024042865
Art A1
29. Februar 2024
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024042865
- Aktenzeichen
- EP23856982
- Anmeldetag
- 30. Juni 2023
- Veröffentlichung
- 29. Februar 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G21K1/06G01N23/20G02B5/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOHOKU UNIVERSITY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Vertreten von
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