Light irradiation apparatus, measuring apparatus, observation apparatus, and film thickness measuring apparatus

WO2024047945 Art A1 7. März 2024

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024047945
Aktenzeichen: EP23859716
Anmeldetag: 8. Mai 2023
Veröffentlichung: 7. März 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/06G01B11/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

2.892 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von