Defect detection method and system based on battery surface image, and related device

WO2024066035 Art A1 4. April 2024

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024066035
Aktenzeichen: EP22960630
Anmeldetag: 6. Dezember 2022
Veröffentlichung: 4. April 2024
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G06N3/04G06V10/82G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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