Reliability test apparatus and reliability test method
WO2024077695
Art A1
18. April 2024
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024077695
- Aktenzeichen
- EP22961877
- Anmeldetag
- 7. November 2022
- Veröffentlichung
- 18. April 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/56
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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