Semiconductor structure and manufacturing method for semiconductor structure
WO2024082529
Art A1
25. April 2024
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024082529
- Aktenzeichen
- EP23878532
- Anmeldetag
- 15. März 2023
- Veröffentlichung
- 25. April 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L23/498H01L21/48H01L21/603
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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