Manufacturing method for semiconductor structure, semiconductor structure, and memory
WO2024087541
Art A1
2. Mai 2024
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024087541
- Aktenzeichen
- EP23881136
- Anmeldetag
- 19. April 2023
- Veröffentlichung
- 2. Mai 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/82H01L21/027H10B12/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
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