Defect detection using multi-modality sensor data
Anmelder: NEC LABORATORIES AMERICA, INC., NEC CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024091563
- Aktenzeichen
- EP23883414
- Anmeldetag
- 25. Oktober 2023
- Veröffentlichung
- 2. Mai 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B60W50/02B60W60/00B60W50/029B60W50/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC LABORATORIES AMERICA, INC.
NEC CORPORATION - Land
- 🇺🇸 USA
NEC Laboratories America ist das US-amerikanische Forschungslabor des japanischen Elektronikkonzerns NEC. Das Portfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Nachrichtentechnik, ergänzt durch faseroptische Mess- und Sensortechnik. Anmeldungen sind von 2001 bis in die Gegenwart belegt.
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Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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