System, device, and method for detecting defects in photovoltaic wafer by using deep learning

WO2024106684 Art A1 23. Mai 2024

Anmelder: HANWHA SOLUTIONS CORPORATION 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2024106684
Aktenzeichen: EP23891758
Anmeldetag: 27. Juli 2023
Veröffentlichung: 23. Mai 2024
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G06N3/08G06V10/764

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HANWHA SOLUTIONS CORPORATION
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Hanwha Solutions

Südkoreanisches Unternehmen, das in den Bereichen Chemie, Kunststoffe und Solarenergie tätig ist, darunter Herstellung von Photovoltaikmodulen sowie petrochemischen Grundstoffen und Kunststoffen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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