Semiconductor structure and manufacturing method therefor

WO2024145971 Art A1 11. Juli 2024

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2024145971
Aktenzeichen
EP23914127
Anmeldetag
7. Februar 2023
Veröffentlichung
11. Juli 2024
Rechtsraum
WO
IPC
H10B12/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

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