Eddy current flaw detecting device, and eddy current flaw detecting method
WO2024150474
Art A1
18. Juli 2024
Anmelder: IHI CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024150474
- Aktenzeichen
- EP23916094
- Anmeldetag
- 25. September 2023
- Veröffentlichung
- 18. Juli 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/9013
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IHI CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
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